SRAM型、フラッシュメモリ型FPGAに50,000段のシフトレジスタを搭載して白色中性子を照射し、フリップフロップのソフトエラー発生率とコンフィグレーションメモリのエラー耐性を同時に評価した。
2種類のFPGAのフリップフロップのソフトエラー発生率はほぼ同じ結果となったが、コンフィグレーションメモリのエラー耐性は平均故障時間(MTTF) で評価するとフラッシュメモリ型FPGAがSRAM型FPGAに比べ、約140倍以上の耐性を持つことが確認できた。