製造ばらつき，電源ノイズ，経年劣化等の性能ばらつきを克服する手法として適応的電圧制御が有望視されている．本研究は適応的電圧制御の設計と製造後テストに取り組む．設計手法として，電圧制御機構と被制御回路の両方を最適化する手法を提案する．提案設計回路の性能を定量的に評価したところ，目標の平均寿命を満足しつつ，平均動作電圧を最大20.8%削減した．製造後テスト手法として，ソフトウェアベース故障高速検出手法に着眼し，電源ノイズに起因する遅延故障を高速検出可能か実機評価により検証する． 65nm の試作チップを用いて実機検証したところ，プログラム実行時の電源ノイズに起因する遅延故障の56%を高速検出した．