短周期テストパタンはロジック回路の狙ったパスを短い周期で連続的に活性化することができる．このことはオンラインパス遅延測定に有用である．本論文では出荷後の劣化検出のための短周期テストパタンを用いたパス遅延測定法を提案する． スキャンベースのオンチップパス遅延測定に位相可変クロックと短周期テストパタンを適用することにより，測定パスの連続活性化に要する時間を削減できる．その結果測定時間を大幅に削減することが可能となる