IoT時代には情報の入り口であるセンサのセキュリティを高めることが必須となる．そこで我々の研究グループではCMOSイメージセンサ(CIS)の画素ばらつきを活用したPUF(CIS-PUF)を提案した．本研究ではCISチップから取得した画素ばらつきデータであるアナログ値を1/0へ変換するID生成方式の検討を行い，NIST検定にてランダム性の評価を行った．検定結果から，半導体の製造時における特性ばらつきのうちの「大域ばらつき」の影響を考慮し，上下隣接したSFTr.の出力値を比較してIDを生成することを提案した．それによりCISチップからほぼ理想的な1/0の乱数が取り出せることを確認した．