ICからの放射電磁波量は、電磁環境適合性(EMC)試験における電磁障害(EMI)レベルとして評価され、一定値以下に抑える必要がある。一方で、放射電磁波は、暗号コア等のセキュリティデバイスへの情報暴露攻撃に悪用されるため、その放射電磁波に起因する情報漏洩量についても定量評価する必要がある。本研究では、共通鍵暗号方式であるAESを異なる設定でFPGA上に実装し、そのEMIレベルと情報漏洩量の相関を評価した。0.001mm解像度のEMIテスタを用いて、FPGAパッケージ表面での放射電磁波強度分布を測定し、同時に取得した放射電磁波波形を用いたサイドチャネル攻撃を行いその情報漏洩量との相関関係を実験的に評価した。