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ポスターセッション発表概要
CMOSイメージセンサの製造ばらつきを用いたPUF技術の基本検討
○名倉 優輝(立命館大学),白畑 正芳(立命館大学),大倉 俊介(ブリルニクスジャパン株式会社),汐崎 充,久保田 貴也(立命館大学),藤野 毅(立命館大学)
近年,画像・映像の編集・加工技術が向上し,悪意を持てばこれらの改竄が容易であり対策技術が必要である.本研究では,画像・映像の改竄防止対策を行うために,CMOSイメージセンサのばらつきを用いて,半導体の個体差を用いた暗号技術であるPUF(Physical Unclonable Function)に応用するための基本検討を行った. CMOSイメージセンサでは素子特性ばらつきを除去するため相関二重サンプリング回路が用いられている.前段にMOSスイッチを追加することにより微小な面積で通常信号とばらつき情報を含む信号を出力させることが可能となり,その電気的特性について回路シミュレーションを行った.また実測値についてもデータを取得し考察を行う.
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