レーザーフォールト注入攻撃は、暗号回路に対する脅威であり、レーザ照射による回路の誤動作を解析すれば、内部の秘密情報を暴露できる。対抗策の一つは、レーザを照射されたレジスタ周囲の異常な挙動を検知することである。本研究では、このレジスタに対するレーザ攻撃時の基板電位変動に着目した。故障注入のための高出力レーザによる基板電位変動は広範囲に及ぶため、これをチップ上でモニタリングすることで対策が可能となる。課題は、モニタの配置数と配置位置の決定法にある。そこでオンチップモニタ回路を用いて、レーザ照射時の基板電位変動波形、レーザ照射位置の距離依存性等を実測・解析し、モニタ配置に関する設計指針を検討した。