30年以上前からADCやDACの性能を示すために、ランプ波を用いた直線性測定が広く用いられている。これは、2のbit数乗のさらに10倍程度という膨大な測定を必要としていた。
本研究は測定時間の短縮のため、まず測定ノイズを1/22に圧縮する新規アルゴリズムを発案した。従来並みのノイズを許容するなら、わずか1/8の測定時間に短縮できた。