電子情報通信学会ソサイエティ大会講演要旨
C-4-4
2μm帯DBRレーザの信頼性
○下小園 真・金井拓也・藤原直樹・石井啓之・大礒義孝・上田悠太・松崎秀昭(NTT)
InGaAsからなる2um帯DBRレーザに対して,活性領域およびSOA領域,DBR(front/rear)領域およびPhase領域,あるいはその両方に対して,恒温槽中85℃において負荷電流を印加した.200時間,500時間,1000時間,2000時間経過時点でサンプルを取り出し,試験前後での発振閾値および発振波長の変動を測定した.2000時間後において,発振閾値の変動は1.5%以下, 波長変化量はDBR電流とPhase電流を同期制御させた時で0.1nm 程度であり,連続運転してもモードホップは起こらないと考えられる.