電子情報通信学会ソサイエティ大会講演要旨
C-3-45
超高ΔPLC技術を用いたSi導波路とSMFとの低損失多芯接続技術
○長谷川淳一(古河電工)・池田和浩・鈴木恵治郎(産総研)・酒井辰浩・佐藤直樹・山崎慎太郎・小林 剛(古河電工)・河島 整(産総研)
Si導波路とシングルモードファイバ(SMF)との接続において、小型かつ低損失な多芯接続を実現すべく、5%Δ以上の超高ΔPLCを間に挿入する新しい構成を考案した。各チップ間での低損失接続を実現するため、Si導波路とPLCの入出力形状の最適化を行い、Si導波路とSMFとの32portの多芯接続実験を行った。その結果、PLCとSMF間は0.2~0.4dB/facet、Si導波路とPLC間は1.1~1.3dB/facetであり、Si導波路とSMF間のトータルの接続損失は1.4~1.6dB/facetであった。この構成によれば、Si導波路とSMF間を低損失で均一性のよい多芯接続が可能になる。