電子情報通信学会ソサイエティ大会講演要旨
C-2-74
マイクロ波非破壊検査のための逆散乱解析及びRPM法を統合した画像再構成法
◎高橋蹴人・木寺正平(電通大)
マイクロ波による非破壊検査は,超音波探傷試験や打音検
査では難しい非接触計測を可能とするため,老朽化した交通インフラ等の大規模領域の迅速な検査に有望である.非破壊計測を想定した画像化方はレーダ方式に基づく手法が多い.しかし,同手法は反射強度分布のみを再現するため,目標の誘電特性を推定することはできない.一方,鉄筋腐食で生じる錆の種類により比誘電率及び導電率が異なることが報告されており[1],逆散乱解析等の誘電特性推定法により鉄筋腐食や空洞等の識別に利用されることが期待される.しかし,通常の非破壊検査における観測モデルでは素子配置領域が制限され,同逆問題を先見情報なしに解くのは難しい.同問題の解決のために,本稿ではレーダ方式の一つであるRPM(RangePoints Migration) 法[2] による目標領域推定と,逆散乱解析法の一つであるDBIM(Distorted Born Iterative Method)[3]を統合し,再構成精度を改善させる方法を提案する.2 次元FDTD(Finite Difference Time Domain) 法に基づく数値計算により,本手法の有効性を示す.