電子情報通信学会ソサイエティ大会講演要旨
B-13-5
振幅平均線形サンプリング法を用いた強度変調器の高ダイナミックレンジ測定
◎砂川純也・伊藤文彦(島根大)・飯田大輔・真鍋哲也(NTT)
強度変調器の評価ファクタとして、帯域幅やオンオフ消光比、チャーピング特性などが重要である。これらを評価するためには高速かつ高ダイナミックレンジな波形観測手段が必要である。線形サンプリング法(LOS)は超高速複素振幅波形の測定を可能とし、位相変調器の評価にも用いられている。位相雑音を補正して振幅平均を行うことにより高ダイナミックレンジ化が可能であり、特に強度変調器の消光比の評価の手段として有望である。今回我々は、位相雑音補正LOSを用いて、短パルス電気信号により駆動されたマッハツェンダー型ニオブ酸リチウム強度変調器の変調波形の測定を行う。それにより、極めて高いオンオフ消光比での高速波形の評価が可能であることを示す。