電子情報通信学会ソサイエティ大会講演要旨
B-6-25
装置適用領域見極め検証における多次元探索方式の効率評価
○林 裕平・西山聡史・奥田兼三(NTT)
装置等の開発では,その適用領域を見極めるために性能検証が行われる.そのような検証では,被試験装置(以降,DUT と呼ぶ)や負荷印可装置(以降,LG と呼ぶ)の設定値を変数として変化させ,CPU 使用率等のDUT の消費リソース情報を収集する.そして,それが許容される範囲内となる変数の領域(以降,実行可能領域と呼ぶ)を見極める.この分野では,1 変数・1 消費リソースに着目して2 分法を行い,実行可能領域を見極める手法が従来提案されている[1].しかし,着目する変数や消費リソースが多次元である場合については言及が無い.本稿では,当該状況下でも,効率的に実行可能領域を探索する方式を提案する.