電子情報通信学会ソサイエティ大会講演要旨
B-4-3
意図的な電磁妨害による故障発生に印加位相が与える影響に関する検討
◎竹之内光樹(東北大)・林 優一(奈良先端大)・水木敬明・曽根秀昭(東北大)
暗号機器に対する電源線を利用した意図的な電磁妨害による故障注入手法ではトリガを取得しないため,電磁界印加を開始するタイミングによってクロックに重畳する正弦波の位相が異なる.結果として印加開始タイミングによって故障発生タイミングと生じる誤りが変化する可能性があった.これに対し本稿では,印加正弦波の位相の操作による印加開始タイミングに誤りが左右されない故障注入手法を提案する.実験としてAES回路を実装したSASEBO-Gに対して位相の操作を伴う故障注入を行い,提案手法の検証を行った.その結果,印加開始タイミングが生じる誤りに与える影響を確認し,提案手法の有効性を示した.