電子情報通信学会ソサイエティ大会講演要旨
A-20-5
NBTI劣化によるArbiter PUFの応答変化に関する検討
◎小野龍輝・田中悠貴・新 瑞徳・辺 松・廣本正之・佐藤高史(京大)
半導体の製造ばらつきを利用して集積回路の個体認証を行うPhysical Unclonable Function (PUF)の研究が盛んである.
一方で,Negative Bias Temperature Instability (NBTI)を始めとする,MOSFETにおける経年劣化現象が確認されており,PUFの応答への影響が懸念される.
本稿ではArbiter PUFを対象として,NBTI劣化がPUFの応答に与える影響をシミュレーションにより検討した.
結果として,ごく短い時間であってもNBTI劣化がPUFの応答に影響を与え,時間経過に伴いその影響がより大きくなること,また,Arbiter PUFにおいてはNBTI劣化のばらつきを抑えることでPUFの応答の変化も抑えられることがわかった.