電子情報通信学会ソサイエティ大会講演要旨
A-8-26
電子部分検査におけるAutoencoderとSVMを用いた欠陥識別
◎大井健太郎・田中智裕・柳部正樹・西村晃紀・森山 健・長谷智紘・前田俊二(広島工大)
精密な電子部品を製造する際,電子部品に欠陥がないか検査装置により自動判定されている.電子部品の微細化,多機能化に伴い,検査の高感度化が要求されている.最近の話題であるディープラーニングによる検査では,製造現場で学習用画像が確保できない場合,低正答率,低再現性を引き起こす場合がある.したがって,欠陥データをいかに確保するかが鍵となる.本報告では,Autoencoderと,Support Vector Machineを用いた欠陥画像の識別を行う.