電子情報通信学会ソサイエティ大会講演要旨
C-12-3
サンプルホールド回路における非線形歪みの測定手法
◎伊藤貴亮・飯塚哲也・名倉 徹・浅田邦博(東大)
アナログ・デジタル変換回路内部で用いられるサンプルホールド回路では出力に非線形歪みが発生し、いかに抑制するかが課題となっている。本研究ではサンプルホールド回路で発生する非線形歪みの回路パラメータ依存性の検証のために、歪みの測定方法の考案、測定用回路の設計及び測定系の構築を行い、実チップを用いて測定を行った。高い線形性を持ったバッファ回路を設計したうえで、サブサンプリング法を適用することにより、シミュレーション結果と同様の傾向をもつ測定結果が得ることができた。