電子情報通信学会総合大会講演要旨
D-10-5
アナログ回路の構造テストにおけるレイアウト情報を用いたテスト生成の効率化
○宮澤悠一・西田健太郎・小松 聡(東京電機大)
アナログ集積回路のテストのための、閾値電圧のばらつきを考慮したDCテスト手法を提案した。レイアウトから得られる情報を用いることで、テスト生成時間の削減を達成した。