電子情報通信学会総合大会講演要旨
D-10-3
LoS方式における遷移故障を対象としたスキャンパスの最適化
○福岡久和・岩田大志・山口賢一(奈良高専)
近年, 出荷テストにおける遷移故障の検出効率がテスト指標の1つとなっており, LSIの信頼性を保証するため検出効率100%が求められている.
故障検出効率は全故障数から冗長故障を除いた数における検出した故障の割合を示す.
しかし, 故障検出効率を向上させるスキャン設計が適用された回路でさえ故障検出効率100%を達成できない.
本研究では, スキャン回路においてLoS方式を対象とし,
冗長故障を除く全ての検出可能な遷移故障を検出するスキャンパスを構築する.