電子情報通信学会総合大会講演要旨
C-12-32
極低電圧動作を想定したディジタルRBM回路の故障耐性の検討
◎福田泰史・河原尊之(東京理科大)
次世代のIoT(Internet of Things)では、限られた電源環境の中で”モノ”が単にデータを集め前処理するだけでなく、自ら情報処理を行うことが予想される。これによりクラウド側の負担を抑えつつ、高度は情報化社会の実現が期待できる。このため、我々はディープラーニングへ展開できる極低電圧ニューラルネット回路を検討している。本稿では、ディープラーニングに用いられるRBMを動作させる回路を検討し、その極低電圧動作により生じるであろう演算誤りに対する耐性をシミュレーションにより検討した。その結果、回路を構成する主要な部分で演算結果の信頼性が20%程度落ちたとしても出力間違い率を5%程度まで抑えられることがわかった。