電子情報通信学会総合大会講演要旨
C-7-13
ダイビット記録による高速応答特性の測定
◎廣川祐生・村岡裕明(東北大)
非線形転移シフトを含めた高速応答特性の測定法として用いられてきたダイビット記録の高速応答特性を計算とスピンスタンドを用いた測定により調べた。ビット長が短くなり高周波化するにつれ、①記録磁化が記録電流と対応する領域Ⅰ,②磁化は反転する領域Ⅱ,③磁化がゼロに達しない領域Ⅲ,の3つの領域が生じる。この領域の線速度依存性を計算により導出したところⅠの領域では線形に変化する傾向が確認されたが、Ⅱの領域ではその線形性が失われ急速に磁化強度が減少する。この傾向をスピンスタンドを用いた実験により調べたところⅠの領域では計算と同様の結果が得られたがⅡの領域については信号強度の減少率が一度緩やかになるような傾向を示した。