電子情報通信学会総合大会講演要旨
B-13-16
オフセット補正複素振幅平均による高ダイナミックレンジ線形サンプリング
○伊藤文彦・河野直人・横田聖司(島根大)・飯田大輔・真鍋哲也(NTT)
線形サンプリング法は、パルス光をローカル光として複素電界振幅の超高速測定を行う技術であり、psレベルの時間分解能と高感度性を有し、近年開発が進んでいる数モード光ファイバのインパルス応答測定への適用が期待される。今回我々は、先に提案したパルス間位相雑音検出法を応用して測定信号の周波数および位相オフセットを補正し、独立なレーザ間での複素振幅平均を実現した。その結果、約1 秒の測定時間(N=1400)で70 dB以上のダイナミックレンジを得る見通しを得たので報告する。