電子情報通信学会総合大会講演要旨
B-13-8
後方散乱光の偏光状態を用いた外乱検出法の検討
○糸井拓弥・的場将志・齊藤 茂(立命館大)
光パルスに対する、ファイバの後方散乱光の偏光状態に着目し、外乱の発生位置と時刻を特定する方法を検討した。散乱光を偏光ビームスプリッタに通して検出し、平均化した散乱光強度波形をオシロスコープ上で取得する。距離に対して与えられるこのような波形を、ある時間間隔で繰り返し取得し、時系列的に並べ替えることで、様々な位置での散乱光の時間変化を得る。この方法により、1000 m の光ファイバに対し、分解能 2 mで外乱の位置と時刻を検出することができた。