電気学会全国大会講演要旨
5-119
JT-60SA中心ソレノイド導体接続部の接続抵抗変化時における熱的安定性の検証
◎藤山 奨・山本侑祐・鈴木一輝・中村一也・高尾智明(上智大学)・村上陽之・夏目恭平・吉田 清・小出芳彦(日本原子力研究開発機構)
JT-60SA用中心ソレノイド (CS) の導体間の接続にはコンパクトな接続が可能な突き合わせ型のバットジョイントが用いられる。接続部では冷媒が外側の表面を流れるため,導体部より熱的安定性が低い。また磁場変化による交流損失や接続抵抗によるジュール損失の影響で導体間接続部の温度が上昇し,クエンチの危険性がある。本研究では,接続抵抗変化時における導体間接続部に生じる損失の解析結果より算出した温度上昇の結果からバットジョイントの熱的安定性を評価した。その結果、接続抵抗が5 nΩ以下では実機運転条件における分流開始温度 (13.5K) を下回るため,接続部でのクエンチの危険性はなく,安定して運転できることが確認できた。