電気学会全国大会講演要旨
2-117
磁粉探傷試験におけるき裂定量化の検討
○福岡克弘(滋賀県立大学)
非破壊検査において検出されたき裂の構造強度への影響を判断することは重要であり、そのためにはき裂の形状を定量的に評価する必要がある。しかし、現状の磁粉探傷試験において、定量的な評価手法は未だ確立されていない。本研究では、磁粉探傷試験においてき裂に付着する磁粉模様と、き裂形状(深さ、幅)との関係を評価することにより、磁粉探傷試験の探傷結果からき裂形状を推定する手法に関して検討した。