電圧印加時の絶縁材料劣化は部分放電によって引き起こされると考えられており、その劣化過程や欠陥形状の違いによる絶縁寿命への影響について研究が行われてきた。しかし、部分放電電荷量の違いによる絶縁寿命への影響については十分に議論されていない。今回、我々は発生する部分放電電荷量が異なる空隙欠陥をエポキシ樹脂内部に作り込んだ試料に対して行った絶縁寿命試験の結果について報告する。