電子情報通信学会総合大会講演要旨
D-10-4
0-1整数計画問題を利用した遅延故障テストの改善
○今村亮太・門田一樹・王 シンレイ・樋上喜信・高橋 寛(愛媛大)
微細化加工技術の発達による集積回路の高速化に伴って,タイミング不良の原因となる遅延故障が問題となっている.そのため,このような遷移故障に対するテストの高精度化が必要である.本研究では,まず,あるテストがある遷移故障を検出するために活性化した経路のなかで最長な活性化経路長に着目することで,テストで検出できる遷移故障に対して,活性化できる経路長を評価するメトリック(総活性化経路長)を提案する.次に,テストで検出できる遅延故障のサイズ(検出可能な付加遅延量)を改善するために,総活性化経路長に基づいて0-1整数計画問題を利用した遅延故障テストの選択法を提案する.