電子情報通信学会総合大会講演要旨
D-10-3
論理ゲートの入力ポートと出力ポート間に生じたブリッジ故障の検出
中山裕太・犬山慎吾・○岩崎一彦(首都大東京)
論理ゲートの入力ポートと出力ポートは同じセル内に配置される.このため,半導体集積回路のレイアウト設計において,これらのポート間にはセル間配線のクリティカルエリアが小さくない確率で生じることが知られている.すなわち,この部分にブリッジ故障が生じやすい.この故障を検出するテストパターンを求めるため,トランジスタレベルで回路を解析する.その結果,論理ゲートの入力ポートと出力ポートに生じたブリッジ故障は,トランジスタレベルで解析することによって,検出可能な場合とfault-freeになる場合とがあることが分かった.