電子情報通信学会総合大会講演要旨
D-3-1
状態遷移とイベントからの優先度付き試験項目作成方法
○柴田 弘・南田幸紀(NTT)
状態とイベントの組み合わせから作成した試験パターンには、膨大な数の準正常系試験(何も起こらないイベントの確認)項目がある。これらの準正常系試験項目に対して、状態遷移に基づき、自動的に不要な項目を除去して優先度情報を付ける方法を提案する。