電子情報通信学会総合大会講演要旨
D-6-1
再利用性の高いRAM診断に関する一考察
○劉 東旭・市岡怜也・三部 健(三菱電機)
本研究は、RAM診断技術に関する研究である。既存のRAM診断技術はRAMを使用しないようにアセンブラで実装している。そのため、マイコンの供給終了時には、診断プログラムを再開発する必要があり、その開発コストが多大になるという課題がある。

そこで、我々は再利用性の高いRAM診断手法を提案している。提案手法の詳細設計で診断関数自体のRAM領域が破壊されてしまうという課題があることが分かった。本稿は、提案手法の実装上の課題とその解決策を報告する。