電子情報通信学会総合大会講演要旨
BCI-2-2
マイクロ波フォトニクス技術による電磁界計測応用の標準化動向
○黒川 悟(産総研)・市川潤一郎(住友大阪セメント)・鳥羽良和(精工技研)・今荘義弘(スタック電子)・川西哲也(NICT)・小川博世(電波産業会)
本報告では,RoFシステムに関する最新の標準化活動状況を述べるとともに,今後標準化を実施する予定であるマイクロ波フォトニクス技術を用いた電磁界計測,アンテナ計測の概要を述べる.