太陽光発電(PV)の信頼性への注目が高まりつつある中，PVシステムのモニタリングにおいて不具合検出のためのストリング電流測定およびモジュール電圧測定が行われている。本稿ではPVアレイ内に不具合モジュールが1枚のみあると仮定した時の電流電圧変化の挙動について，光電流低下・内部抵抗の各種不具合での違いを定量的に算出するモデルの開発を行った。PVアレイの電流電圧を模擬し，ストリング電流およびモジュール電圧のシミュレーションを行ったことにより，モジュール電圧の差分の変化率がストリング電流の差分と比較し大きく，より簡便に不具合を検出できる可能性があることが確認できた。