電気学会全国大会講演要旨
5-138
ME化配電盤内の温度分布と劣化に関する調査
◎伊東和彦・田中弘毅・山野井 隆・川原敬治(西日本旅客鉄道)・田中 憲・西川孝雄(三菱電機)
電鉄用変電所のME化配電盤に用いられている電子機器は予防保全を前提に設備更新を行っているため、実際に機能を失う寿命が定かではない。そこで、最適な取替寿命を把握するために、長年使用してきた電子機器の撤去品調査を実施して、実使用環境で劣化が顕著な部位がアルミ電解コンデンサであることを確認した。あわせて、ME化配電盤内で使用している電子機器にはその種類や取り付け位置によって使用温度差があることを確認した。そこで、今回、電子機器の使用温度差が実装されているアルミ電解コンデンサの劣化に与える影響について確認したところ、その使用温度に依存して劣化が進行する傾向にあることがわかった。