電気学会全国大会講演要旨
2-055
走査型プローブ顕微鏡による熱劣化と熱・放射線同時劣化シリコーンゴムの表面観察
◎花田脩伍・仁木貴之・平井直志・大木義路(早稲田大学)
大気中で100,175,205oCで熱劣化,および100oCで1kGy/hのガンマ線照射による熱・放射線同時劣化を,それぞれ200時間または400時間行ったシリコーンゴムについて,走査型プローブ顕微鏡(SPM)による表面観察とフーリエ変換赤外分光(FT-IR)の全反射測定を行った。先行研究では,FT-IRにおいて有意な変化はなく,引張試験では劣化条件が厳しくなるほど硬化するとされている。今回の結果では,FT-IRでは同様に有意な変化がなく,SPMにより,試料の硬化は劣化条件が厳しくなるにつれて進行することが確認された。これは,先行研究の引張試験の結果と符合している。