ノズル空間内のガス吹付けアーク消滅過程を詳細に解明することは，ガス遮断器のコンパクト化，高性能化にとって極めて重要である。今回，アーク減衰過程の基礎検討のため，パワー半導体を利用して意図的にフリーリカバリ減衰過程を作成し，さらにその後電極間に擬似的に回復電圧を印加する手法を考案した。本報告では，ノズル空間内のSF6ガス吹付けアークに対して，IGBTによりフリーリカバリアーク減衰過程を作成し，その後電圧を意図的に印加する試験を行った。その結果，アーク減衰後に電圧を印加するタイミングを変化させることで再発弧の有無を確認でき，極間の回復速さを簡易に検討できることがわかった。