ガス絶縁開閉装置（GIS）は，その高い信頼性や安全性，コンパクト性などから，主要変電設備として広く導入が進んできた。現在，フィールドではこれらのGISの高経年化が進みつつあり，その健全性の見極めが重要となってきている。このような高経年GISの，絶縁面での寿命を決める支配的な要因の一つとして，絶縁スペーサの劣化が考えられる。GISを長期に信頼性を保ちつつ使用するには，経年による絶縁物の劣化特性を把握する必要がある。 本課題に対して，筆者らはこれまで，エポキシ絶縁物中に極微小な欠陥が存在した場合の劣化特性（V-t特性）を電界加速により取得してきた。本報告では，更なる長時間領域でのV-t特性を取得する方法として，周波数加速による加速劣化の等価性について検討を行う。