半導体レーザと1次元イメージセンサによりラインスキャナを構成し、落下中の粒子を直接撮像、その形状と粒径分布を計測可能な装置を開発している。これまで計測幅16mmの装置を開発し、降雨粒子に対しての有効性を確認したが、粒径の大きな降雪粒子に対しては計測幅が不足であった。降雪粒子に特化するため、計測幅を48mmまで拡幅した装置を開発している。本装置により試験観測を行った結果、降雪粒子の全体像を撮影する事に成功した。