ガス絶縁開閉装置は密閉容器にSF6ガスを封入した高信頼度機器であり、当初想定した30年の期待寿命を超えて今後も継続使用される機器も増えている。このような高経年機器において、工場試験を通過した微小欠陥が長期のストレスで進展劣化し、部分放電が発生した場合の破壊特性については一部報告があるが、欠陥の種類や形状の影響まで十分に考察されておらず、おおまかな目安を与えるものでしかない。 今回、管理された欠陥により欠陥種類別のV-t特性を取得する研究として、ボイド，剥離，クラックの代表的な3種類の絶縁物内部欠陥が1pCとなる形状を規定し、短時間破壊試験により、破壊電圧が欠陥種類に依存することを確認した。