筆者らはこれまでに，ガス遮断器内のアーク消滅過程を基礎的に明らかにするためにSF6 アークを対象として，原子・分子・イオン・電子間の反応速度を考慮した反応非平衡モデルを構築してきた。一方，実際の遮断時においては交流電流の零点後，電極間には過渡回復電圧TRV が印加される。このTRV 印加時においては残留アーク内において高い電界が印加されるため，電子温度Te がガス温度Tg より高い，いわゆる二温度状態となる可能性がある。本報告では，開発してきた反応非平衡モデルについて二温度状態を考慮できるようモデルの改良を試み，TRV 印加時の減衰SF6 アーク内におけるTe およびTg の分布を求めた。