電気自動車や太陽光電池などの直流電力機器が普及している。そのため，事故時に確実に電流を遮断し，直流系統を保護するヒューズが求められている。これまで半導体保護用としてエッチドヒューズの交流遮断試験について報告を行い，良好な結果を得ている。今回，エッチドヒューズの直流遮断の適用の基礎研究を行った。 本報ではセラミック基板上に銅メッキ膜をエッチング処理して作られたヒューズエレメント使用し，直列遮断点数(S)と並列遮断点(P)が異なるエレメンパターンで直流遮断試験を行い，遮断性能の比較を行った。