これまで、銅クロム接点真空バルブについて、電流遮断試験前後のV-t特性を測定してきた。その結果、電流遮断回数が3回の場合には、遮断後の方が絶縁破壊電圧が向上する傾向が見られた。その原因として、電流遮断による電極表面の凸凹の改善や、電極表面に銅とクロムの微細層が形成されることが考えられる。本報告では、電流遮断回数を更に増やした場合に、絶縁破壊電圧の向上が見られるのかを調査するために、電流遮断回数を10回、30回とした場合のV-t特性を測定した。その結果、絶縁破壊電圧の向上は確認されなかったが、絶縁破壊までの遅れ時間に大きな遅れが現れた。