高電圧電力機器の絶縁劣化や絶縁異常を現地で検出する上で部分放電(PD)診断手法が有効である。対象設備によっては大容量の課電設備が必要となり，電源容量の確保が困難になる場合がある。そのため対象設備の静電容量Cを活用し，試験装置のインダクタンスLとのLC共振を利用した課電試験装置が実用化されている。LC共振試験装置の課電周波数は商用周波数に一致しない場合があり，商用周波数以外での課電周波数が各種欠陥におけるPD特性に与える影響を明らかとすることによりLC共振試験装置の適用性を拡大することが可能となる。今回は開放型の金属エッジでのPDを模擬できる針-平板電極系におけるPD特性の課電周波数依存性を報告する。