ESP内部の粒子挙動には電界や気流場等の要因が大きく関わるため、粒子の挙動を把握することは重要である。本研究では粒子画像流速測定法(Particle Image Velocimetry: PIV)を用いてESP内部の微粒子の挙動を解析し、捕集する際の影響について考察することを目的とした。 線対平板電極ESPモデルにエチレングリコール水溶液を気化しトレーサ粒子として流入する。トレーサ粒子をレーザーライトシートにより可視化し、高速カメラで取得した可視化画像を解析することにより瞬時の速度分布を求める。測定領域を図2示す。線電極と観察面端前後の距離は12.8mm、20.6mmであり、電極間距離は17.5mmとした。実験条件は、ESP内部の主流体の風速0.22m/sとし、線放電電極に正極性直流高電圧4.7－5.8kVを印加した。 結果として印加電圧を上昇させていくに従い、放電電極付近での粒子は集じん電極に向かって垂直に移動し、速度も増加する傾向がある。