N₂混合ガスは絶縁ガスとして利用されている。しかし，低気圧中でN₂は放電で生じた高い内部エネルギーを持つ活性種により放電発生がしやすくなる事が知られている。また，高気圧中においても繰り返し放電をすると，後続の放電の絶縁破壊確率が上昇することを示してきた。そこで，N₂にNOなど活性種の内部エネルギーを解放する作用を期待できる分子やSF₆など電子付着性の強い分子を混合することで，電子供給が抑制される事を確認している。今回，N₂にNO，SF₆とSF₆代替ガスの一つであるCF₃Iを微量混合した時の供給電子数を測定し，供給電子数の減少速度を比較した。また，混合ガスの粒子数密度と供給電子数の減少速度についても報告する予定である。