電気学会全国大会講演要旨
6-298
スイッチギヤ内部絶縁物の劣化評価手法の検討
○水谷嘉伸(電力中央研究所)・永田慎一・星島 亘(中国電力)
7.2kVスイッチギヤ内部の絶縁物については,潮解・腐食性物質の付着・吸湿の影響により,経年とともに絶縁性能が低下し,絶縁破壊に至る可能性が考えられている。しかし,絶縁物の絶縁性能を評価するにあたり,経年に伴う絶縁性能低下に関する知見が少なく,有用な評価手法が無いのが現状である。そこで劣化評価手法を検討する一環として,絶縁物の新品と撤去品を用いて,経年に伴う電気的性能および腐食等による表面の組成変化に関する評価を行った。その結果,経年30年程度では顕著に劣化は進行しておらず,定期的な点検手入れと内部環境を適性に保つことで,初期の性能を維持できることを確認したので報告する。