本論文は、真空バルブで使用されるCuCr接点のCr含有量を変化させ、コンデンサ開閉性能の影響を調査したものである。Cr25mass%とCr35mass%の2種類の接点を用い、500回のコンデンサ開閉試験とその前後の耐電圧試験を実施して、その性能を比較検証した。その結果、Cr35mass%のほうが接点の損傷が小さく、コンデンサ開閉性能が優れていることが分かった。